x
Dodatkowe  15 zł RABATU  na  WSZYSTKO  przy zakupach za min. 179 zł z kodem:  30kwi2024 
wróć

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych


brak ocen
Pomarańczowy label oszczędź 50 % Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Strzałka w lewo (przewiń galerię)
Strzałka w górę (przewiń galerię)
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Strzałka w prawo (przewiń galerię)
Strzałka w dół (przewiń galerię)

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych


brak ocen
Wydawnictwo: Wydawnictwo Wyższej Szkoły Humanistyczno-Ekonomicznej w Łodzi » Rodzaj okładki: Miękka Wymiar: 20x30cm Ilość stron: 395 Waga: 0.3 kg EAN: 9798387814921 Stan: Używana
cena: 40,00 zł 20,00 zł
Najniższa cena z 30 dni: 20,00 zł
Publikacja zawiera materiały na IX Krajową Konferencję z cyklu „Diagnostyka Edukacyjna”, Łódź, wrzesień 2003 roku.
W części teoretycznej zamieszczone są teksty przekazujące nową wiedzę o problematyce pomiaru, porządkującą pojęcia oraz dające przykłady modeli i metod badawczych. W części szczegółowej materiały koncentrują się wokół zagadnień trafności egzaminowania, motywacji ucznia i etyki egzaminatora.

DOSTAWA

Zamów do godziny 10:00, a Twoje zamówienie wyślemy najpóźniej w kolejnym dniu roboczym. W przypadku książki nowej termin ten może się wydłużyć o 2 dni robocze.

FORMY DOSTAWY

  • Inpost Paczkomaty 24/7 - 17,99 zł
  • Inpost Kurier24 -19,99 zł
  • Inpost Kurier za pobraniem - 27,99 zł
  • ORLEN Paczka - 14,99 zł
  • Pocztex - odbiór w punkcie - 15,99 zł
  • Pocztex Kurier - 17,99 zł
  • DPD - 16,99 zł
  • Odbiór osobisty Lubień - 0,00 zł
 

Darmowa dostawa przy zamówieniu od 299 zł.

FORMY PŁATNOŚCI

  • online – szybkie transfery
  • online - PayPal (należy wpisać e-mail odbiorcy: sklep@tezeusz.pl)
  • przelew tradycyjny
  • płatność przy odbiorze gotówką lub kartą

Nie dodano jeszcze żadnej opinii.

brak ocen

Musisz być zalogowanym użytkownikiem, aby dodawać opinie o produktach.

ZALOGUJ SIĘ

widok:
sortuj:
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
-50%
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych dodaj do listy życzeń
Używana
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00674180
Stan: Widoczne ślady używania
40,00 zł 20,00 zł
Najniższa cena z 30 dni:
20,00 zł
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00674180
Stan: Widoczne ślady używania
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
-50%
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych dodaj do listy życzeń
Używana
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00676675
Stan: Widoczne ślady używania
40,00 zł 20,00 zł
Najniższa cena z 30 dni:
20,00 zł
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00676675
Stan: Widoczne ślady używania
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
-50%
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych dodaj do listy życzeń
Używana
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00676581
Stan: Jak nowa
40,00 zł 20,00 zł
Najniższa cena z 30 dni:
20,00 zł
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00676581
Stan: Jak nowa