Lato z książką! -15 zł z kodem LATO_15 przy zakupach od 99 zł. Kod ważny do 31.07.2026.

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych


brak ocen
Wydawnictwo: Wydawnictwo Wyższej Szkoły Humanistyczno-Ekonomicznej w Łodzi » Rodzaj okładki: Miękka Wymiar: 21x29cm Ilość stron: 395 Waga: 0.3 kg EAN: 9798387814921 Stan: Używana

Masz tę lub inne książki? Sprzedaj je u nas Skup książek Tezeusz.pl

cena: 40,00 zł 4,04 zł
Produkt wprowadzony do obrotu na terenie UE przed 13.12.2024.
widok:
sortuj:
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
-90%
Używana
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00676675
Stan: Widoczne ślady używania
40,00 zł 4,04 zł
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00676675
Stan: Widoczne ślady używania
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
-90%
Używana
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00674180
Stan: Widoczne ślady używania
40,00 zł 4,04 zł
Rok wydania: 2003
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T00674180
Stan: Widoczne ślady używania
.