Test Driven Development for Embedded C


brak ocen
Wydawnictwo: The Pragmatic Bookshelf » Rodzaj okładki: Miękka Wymiar: 22x29cm Ilość stron: 330 Waga: 0.3 kg EAN: 9781934356623 Stan: Używana

Masz tę lub inne książki? Sprzedaj je u nas Skup książek Tezeusz.pl

Produkt niedostępny
Powiadom mnie o dostępności tego produktu
Produkt wprowadzony do obrotu na terenie UE przed 13.12.2024.
widok:
sortuj:
Używana
Rok wydania: 2011
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T04481038
Stan: Widoczne ślady używania
Rok wydania: 2011
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T04481038
Stan: Widoczne ślady używania
Używana
Rok wydania: 2011
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T04481037
Stan: Widoczne ślady używania
Rok wydania: 2011
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T04481037
Stan: Widoczne ślady używania
.