Sklep tezeusz.pl wykorzystuje pliki cookies. Umożliwiają one sprawne działanie strony, narzędzi analitycznych, reklamowych i społecznościowych. Szczegóły na ten temat znajdziesz w Polityce Prywatności i Polityce cookies. Ustawienia cookies możesz zmienić w preferencjach swojej przeglądarki internetowej.

Rozumiem
x
WIOSENNA BURZA PromocjI: 25 zł od Tezeusz.pl i darmowa dostawa dla zamówień od 225 PLN, w koszyku użyj kod WBURZ23
wróć

Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej


brak ocen
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Strzałka w lewo (przewiń galerię)
Strzałka w górę (przewiń galerię)
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Strzałka w prawo (przewiń galerię)
Strzałka w dół (przewiń galerię)

Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej


brak ocen
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN Stan: UżywanaRodzaj okładki: Miękka Wymiar: 14x21cm Ilość stron: 305 Waga: 0.5 kg EAN: 9788301113889
Produkt niedostępny
Powiadom mnie o dostępności tego produktu
Rentgen (symbol R) – jednostka dawki ekspozycyjnej promieniowania jonizującego X lub gamma. Dawka ekspozycyjna 1 R wywołuje za pośrednictwem emisji cząstek wtórnych w 1 cm³ suchego powietrza w warunkach normalnych (w powietrzu o masie 1,293 mg) powstanie tylu par jonów każdego znaku, że ich ładunek jest równy 1 esu.

DOSTAWA

Zamów do godziny 10:00, a Twoje zamówienie wyślemy najpóźniej w kolejnym dniu roboczym. W przypadku książki nowej termin ten może się wydłużyć o 2 dni robocze.

FORMY DOSTAWY

  • Paczkomat InPost 14,99 zł
  • Kurier24 InPost 14,99 zł
  • Kurier za pobraniem 24,99 zł
  • Kurier UPS 13,99 zł
  • Kurier UPS - odbiór w punkcie 13,99 zł
  • Orlen Paczka 11,99 zł
  • Kurier48 Poczta Polska odbiór w punkcie 13,99 zł
  • Kurier48 Poczta Polska 13,99 zł
  • Odbiór osobisty Lubień 0,00 zł
 

Darmowa dostawa przy zamówieniu od 200 zł.

FORMY PŁATNOŚCI

  • online – szybkie transfery
  • online - PayPal (należy wpisać e-mail odbiorcy: sklep@tezeusz.pl)
  • przelew tradycyjny
  • płatność przy odbiorze gotówką lub kartą

Nie dodano jeszcze żadnej opinii.

brak ocen

Musisz być zalogowanym użytkownikiem, aby dodawać opinie o produktach.

ZALOGUJ SIĘ

widok:
sortuj:
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej dodaj do listy życzeń
Używana

Uwagi:

Obwoluta/Oprawa: lekko wytarta

Brzegi stron: zakurzone

TIN: T03794510

Rok wydania: 1994

Rodzaj okładki: Miękka

Uwagi:

Obwoluta/Oprawa: lekko wytarta

Brzegi stron: zakurzone

TIN: T03794510

Rok wydania: 1994

Rodzaj okładki: Miękka

Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej
Podstawy krystalografii strukturalnej i rentgenowskiej dodaj do listy życzeń
Używana

Uwagi:

Obwoluta/Oprawa: zabrudzona, porysowana

Rogi: uszkodzone

Brzegi stron: zabrudzone, zakurzone

Kartki: pożółkłe

Inne: ślady kleju przy grzbiecie

TIN: T03583979

Rok wydania: 1994

Rodzaj okładki: Miękka

Uwagi:

Obwoluta/Oprawa: zabrudzona, porysowana

Rogi: uszkodzone

Brzegi stron: zabrudzone, zakurzone

Kartki: pożółkłe

Inne: ślady kleju przy grzbiecie

TIN: T03583979

Rok wydania: 1994

Rodzaj okładki: Miękka