James T. Healy - książki, profil autora

James T. Healy Automatic Testing and Evaluation of Digital Integrated Circuits Rok wydania: 1981 Rodzaj okładki: Twarda z obwolutą Stan: Z uszkodzeniami

zamknij 

Objaśnienie: Z uszkodzeniami
Książki mogą posiadać niektóre z widocznych uszkodzeń, np. pęknięcia, zagięcia, postrzępienia, naderwania, ślady po taśmie, inne.

Objaśnienie: Z uszkodzeniami
Książki mogą posiadać niektóre z widocznych uszkodzeń, np. pęknięcia, zagięcia, postrzępienia, naderwania, ślady po taśmie, inne.

28,83 zł SZCZEGÓŁY dodaj do listy życzeń usuń z listy życzeń