Wydawnictwo London Iliffe Books LTD

R. Paul Measurement of Transistor Parameters Rok wydania: 1969 Rodzaj okładki: Twarda z obwolutą Stan: Z uszkodzeniami

zamknij 

Objaśnienie: Z uszkodzeniami
Książki mogą posiadać niektóre z widocznych uszkodzeń, np. pęknięcia, zagięcia, postrzępienia, naderwania, ślady po taśmie, inne.

Objaśnienie: Z uszkodzeniami
Książki mogą posiadać niektóre z widocznych uszkodzeń, np. pęknięcia, zagięcia, postrzępienia, naderwania, ślady po taśmie, inne.

Produkt niedostępny dodaj do listy życzeń usuń z listy życzeń