Pomiary interferencyjne systemy wzorów długości


brak ocen
Rok wydania: 1978 Wydawnictwo: Politechnika Warszawska » Rodzaj okładki: Miękka Wymiar: 17x26cm Ilość stron: 202 Waga: 0.3 kg TIN: T04122528 Stan: Używana
Stan egzemplarza: Z uszkodzeniami
Grzbiet: naderwany
Wady fabryczne: ślady kleju przy grzbiecie
Inne informacje: obwoluta/oprawa z naklejkami, adnotacje i pieczątki biblioteczne

Masz tę lub inne książki? Sprzedaj je u nas Skup książek Tezeusz.pl

cena: 26,00 zł 5,26 zł
Produkt wprowadzony do obrotu na terenie UE przed 13.12.2024.