Metody analizy i optymalizacji tolerancji parametrów układów elektronicznych


brak ocen
Wydawnictwo: Wydawnictwa Naukowo-Techniczne » Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą Wymiar: 16x23cm Ilość stron: 241 Waga: 0.511 kg Stan: Używana

Masz tę lub inne książki? Sprzedaj je u nas Skup książek Tezeusz.pl

cena: od: 17,34 zł
Produkt wprowadzony do obrotu na terenie UE przed 13.12.2024.
widok:
sortuj:
Używana
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T09086680
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Inne: adnotacje biblioteczne / pieczątki
17,34 zł
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T09086680
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Inne: adnotacje biblioteczne / pieczątki
Używana
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T09086679
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Inne: adnotacje biblioteczne / pieczątki
20,40 zł
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T09086679
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Inne: adnotacje biblioteczne / pieczątki
Używana
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T08628700
Stan: Widoczne ślady użytkowania
20,59 zł
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T08628700
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Używana
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T08535834
Stan: Widoczne ślady użytkowania
20,59 zł
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T08535834
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Używana
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T08046517
Stan: Widoczne ślady użytkowania
20,59 zł
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka z obwolutą
TIN: T08046517
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Używana
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T09235665
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Inne: brak obwoluty
21,84 zł
Rok wydania: 1981
Rodzaj okładki: Miękka
TIN: T09235665
Stan: Widoczne ślady użytkowania
Inne: brak obwoluty
.