LSI/VLSI Testability Design


brak ocen
Rok wydania: 1988 Język wydania: angielski Wydawnictwo: McGraw -Hill » Rodzaj okładki: Miękka Wymiar: 15x21cm Ilość stron: 702 Waga: 0.839 kg TIN: T08374607 Stan: Używana
Stan egzemplarza: Widoczne ślady użytkowania
Inne: adnotacje biblioteczne / pieczątki

Masz tę lub inne książki? Sprzedaj je u nas Skup książek Tezeusz.pl

cena: 19,55 zł
Produkt wprowadzony do obrotu na terenie UE przed 13.12.2024.