Roman Ciuryło - książki, profil autora

Andrzej Bielski Roman Ciuryło Podstawy metod opracowania pomiarów Rok wydania: 2001 Rodzaj okładki: Miękka EAN: 8323113114 Stan: Widoczne ślady użytkowania

zamknij 

Objaśnienie: Widoczne ślady używania
Książki posiadające drobne ślady użytkowania, które nie wpływają na zawartość i nie utrudniają czytania (drobne przybrudzenia, zagięcia, mogą pojawić się podkreślenia, podpis, inne).

Objaśnienie: Widoczne ślady używania
Książki posiadające drobne ślady użytkowania, które nie wpływają na zawartość i nie utrudniają czytania (drobne przybrudzenia, zagięcia, mogą pojawić się podkreślenia, podpis, inne).

19,55 zł SZCZEGÓŁY dodaj do listy życzeń usuń z listy życzeń