Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii. Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT). Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych.